描述
TOF载流子迁移率测试仪CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统,主要用于EL元件和太阳能电池等测试。
我们TOF载流子迁移率测试仪有防噪声系统和**的信号处理,明显降低了噪声,响应速度快,如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具(作为***个选项)模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光.
我们的TOF载流子迁移率测试仪除了TOF法测测量,也可选FET方法测量。
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详细信息 描述 TOF载流子迁移率测试仪CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统,主要用于EL元件和太阳能电池等测试。 我们TOF载流子迁移率测试仪有防噪声系统和**的信号处理,明显降低了噪声,响应速度快,如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具(作为***个选项)模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光. 我们的TOF载流子迁移率测试仪除了TOF法测测量,也可选FET方法测量。 |