可加到任何支持光谱学、色度学和微区膜厚度的显微镜镜体上应用
通用型显微分光光谱仪设计用来给您的光学显微镜或探测台增加先进的光谱学、彩色成像、薄膜厚度测量和色度学等功能。拥有前沿的光学、电子学和软件等优势，它可以用来更新老旧的显微分光计。
通用型显微分光光谱仪附加到开放的图像端口（photoport）上让您能够收集到纤显微样品的透射比、反光率、偏振甚至是荧光性和发冷光性能。它拥有CRAIC公司产品Lightblades™分光光度计的特点，可测量光谱的范围是紫外光到近红外光。您使用通用型显微分光光谱仪甚至可在不破坏的情况下迅速轻松地获得次微米***样品高***的光谱的图像。
通用型显微分光光谱仪是***款理想的多用途仪器，例如用于平板显示器像素点的色度学、镜质体煤块和源岩的反射测定法，或者是光学器件和半导体的薄膜厚度测量。