仪器功能：
X 射线衍射仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。
仪器特点：
整机采用可编程序控制器 PLC 控制技术；
操作方便，***键式采集系统；
模块化设计，配件即插即用，***校准；
触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；
高功率 X 射线发生器，性能稳定可靠；
电子铅门联锁装置，双重防护，确保使用者安全。
仪器精度：
扫描范围：-110～161°；
扫描方式：透射、步进、连续、OMG；
***小步进角度：0.0001°；
2θ角重复精度：0.0001°；
全谱图 2θ 角线性精度：≤±0.01°。
