半导体参数测试仪4200A-SGS特点
用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高***测量硬件
立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
准确的 C-V 表征
使用半导体参数测试仪4200A-SCS的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量***位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz
测量电容、电导和导纳
使用 4200A-CVIV 多路开关可测量四个通道测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，***重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
***重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
用户可配置低电流功能
个性化输出通道名称
查看实时测试状态
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案
4200A-SCS 半导体参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
“点击"测试定序
“手动"探测器模式测试探测器功能
假探测器模式***移除命令即可实现调试
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
特点
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
进行 飞安测量
多达 9 个 SMU 通道
针对长电缆或大卡盘进行了优化
