*.探针台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试
*.工作台面：300mm*230mm；载物台直径：4''
*.放大倍数：50倍、100倍；
*.轴向转角：0-360°，并可由旋钮微调±60°
*.探针调整架：X、Y、Z三维微调0-7mm
*.探针架座：任意位置固定
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*.探针台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试
*.工作台面：300mm*230mm；载物台直径：4''
*.放大倍数：50倍、100倍；
*.轴向转角：0-360°，并可由旋钮微调±60°
*.探针调整架：X、Y、Z三维微调0-7mm
*.探针架座：任意位置固定
