X-射线荧光分析测厚仪

 
 
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更新 2023-12-06 16:16
 
详细说明

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪

Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供***般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也***样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,性高,是五金电镀,***饰,端子等行业的. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择,

可测元素范围:

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

自动测量功能:编程测量,自定测量

修正测量功能:底材修正,已知样品修正

定性分析功能:光谱表示,光谱比较

定量分析功能:合金成份分析

数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。


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