TOF载流子迁移率测试系统

描述 

TOF载流子迁移率测试仪CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统，主要用于EL元件和太阳能电池等测试。

我们TOF载流子迁移率测试仪有防噪声系统和**的信号处理，明显降低了噪声，响应速度快，如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具（作为***个选项）模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光.

我们的TOF载流子迁移率测试仪除了TOF法测测量，也可选FET方法测量。