单站比表面积及介孔孔径分析仪 JW-BK100系列

 
 
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孔径范围 0.35nm-500nm
比表面范围 0.0001m2/g-无上限
中值孔径重复性 ≤0.02nm
更新 2023-06-14 13:22
 
详细说明

比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之***,常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK100系列静态氮吸附仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题,该系列产品根据测试功能不同区分为A、B、C三种型号,其中C型研究***设备因配置有超低压1torr或0.1torr压力传感器,及10-8Pa超低真空度涡轮分子泵,可有效解决分子筛、催化剂、活性炭等微孔材料的超微孔分析。

孔径范围

0.35nm-500nm

比表面范围

0.0001m2/g-无上限

中值孔径重复性(标准偏差)

≤0.02nm

比表面重复性(相对标准偏差)

±1%


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