FAPS2000H 8英寸高速全自动测试探针台针对8英寸晶圆片测试而设计的***体化在片测试解决方案。探针台载片台平面采用铝合金镀金保证测试过程中的低接触电阻、超薄晶圆片处理和功率耗散，同时提供低漏电噪声的保护及屏蔽环境。为了保证高压测试的人身安全，采用了安全互锁系统机构和测试系统***联；wafer图形分布描述，芯片图像对准，坐标定位等功能，同时配置经典的四向迷你位置操作键盘。
FAPS2000为可升***平台结构，可通过升***Chuck盘扩展加热和变温功能，加热范围到150°C，变温范围为-50°C~150°C。提供高功率Chuck盘升***，支持3kV，20A功率器件测试。
全自动测试探针台采用直线电机，可通过硅片传输机构进行自动上下片，机械手传输具有良好的稳定性，准确性以及高洁净度等优点，能够更好的提高生产效率。
